企业应用的固态硬盘（SSD)：误区与事实

数据维持能力

　　– 一定数目的P/E周期后，RBER一定会随着时间推移而增加

　　– ECC能校正比特跳变差错, 但校正能力是有限的

　　– 选择一个合适的数据维持时间以及UBER，从而以此来确定一个安全的可擦写次数，这就是另外一个耐用性限制

缺陷

　　– 所有的集成电路都有缺陷，大多数NAND闪存的缺陷诱发的失效都是由P/E操作造成, 因为P/E过程中的高电压容易造成缺陷短路。

　　– 缺陷造成的失效率达到可接受的临界点是另一个耐用性限制

所有的NAND闪存都有损耗极限,耐用性挑战就是把这个极限往右移直至超过期望的寿命期。另外，使用过程中由于写操作缺陷导致随机故障的产生，耐用性挑战就是把这类故障率尽可能降低.当上述可能得以实现的时候，固态硬盘对企业级应用的承诺就能很好的实现了。

假设主机要重写新的数据到到一个区块(block)中,但NAND闪存不能直接覆盖数据，而是需要把数据写到一个擦除过的区块(block)中然后擦除原来的区块(block)，结果: 主机要求写2个页(page)数据但物理上写了64个页，这就是所说的写入放大，这里为32。固态硬盘的耐用性是NAND耐用性除以写入放大因子(WAF)，因此低的WAF至关重要。

写入负载同样也会影响耐用性，写入负载影响写入放大因子(WAF)因而影响耐用性，写入的数据越大，其放大因子越低，使得固态硬盘的耐用性越高。而增加随机写数据块的大小也会减小WAF从而提高耐用性。类似，增加数据的随机性会增加WAF从而降低耐用性;增加随机数据的LBA覆盖范围 ，会降低脏数据整 理(garbage collection)的效率 ，从而增加WAF，降低耐用性。优化负载，使WAF最小化，是提高固态硬盘耐用性最根本的方法。

厂商耐用性指标

耐用性指标对消费级和企业级有不同的需求规范。使用条件包括两个方面: 具体的I/O工作负载和温度。耐用性限制包括了所有我们所讨论的：

　　– 数据保持时间

　　– 功能故障率需求(缺陷&短路)

　　– 无法校正的比特差错率 (写入比特差错)

　耐用性验证测试(EVT): 基本方法

EVT是一种加速性的、全寿命期测试，而传统机械硬盘的可靠性测试(RDT)则不是。对于高耐用性固态硬盘的耐用性则可以使用推断法来进行评估。

当我们了解了SSD固态硬盘的工作原理和测试方法之后，那么我们该如何选择固态硬盘呢?首先，我们要明白，耐用性越高，那么所花费的成本就越高，价格也就越昂贵。消费者必须清晰地了解自己的需求，到底需要多少耐用性?尽管大量的调研数据表明，英特尔目前生产的固态硬盘完全能够满足每天50GB的写入量，但是一种称之为“耐用性恐惧症”的心理期望却迫使客户期望10,000-100,000PE的耐用性能力。