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从安捷伦(Agilent Technologies)分离出来的半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)中国台湾分公司总经理陈瑞铭表示,DDR3 的测试需求预计要到2009年才会真正升温。
DDR到DDR2的转换花费了4到5年,不过陈瑞铭认为,DDR2到DDR3的过渡时间会更短一些。然而,DDR3在2009年前都只能是小批量生产,到了2009年才能大量生产。
目前,爱德万测试公司(Advantest)推出的T5593测试机适用于DDR2,也可以测试频率为1066MHz的DDR3芯片。如果频率高于1066MHz,就必须改变参数来测试。不过由于目前高频DDR3出货量极小,目前业界并不是很关注这一问题。陈瑞铭表示,惠瑞捷已经拥有可以测试3.6GHz到10GHz芯片的设备。
内存交易机构集邦电子(DRAMeXchange)表示,当前台系封测厂商对于DDR3测试的开发进度都很保守,因为芯片生产商也没有具体敲定封装方式,目前DDR3的封装共有三种方式,分别为:WBGA(Window Ball-Grid Array,窗式球栅阵列)、µBGA、CSP(Chip Scale Package,芯片尺寸封装)和FC(Flip-Chip,倒装芯片)封装。
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