共存共荣的辉煌——小议NEC芯片刻录+MTK芯片的测试成绩

　　这篇文章，献给即将上市的NEC 7200家族、锋116家族、以及所有的NEC/MTK芯片爱好者。

　　早前就说过，飞芯和MTK的测试之争，似乎是民用测试永恒的争议话题。尽管飞芯测试的支持者和MTK的测试支持者都认为在民用机测试领域中的老大是P机，但高昂的价格和过慢的测试速度阻碍了P机在这一领域的应用。

　　就在几天前，国外著名的CDFREAKS上再次爆发了飞芯和MTK测试参考度度的口水战。不同于我们的CDB论坛，CDFREAKS论坛绝大部分人是MTK测试的支持者 – 其著名代表人物就是管理员，官方测试员兼版主的DEE-27。此外，另外一家比较权威的CDRLABS其官方测试员也是坚定的MTK测试支持者。

　　我不想再为这个话题起什么争执，毕竟之前我和很多朋友都有说明 – 测试反映测试机读取状况；而民用测试成绩仅可用来参考。

　　这篇文章并不是为了讨论飞芯和MTK的测试参考性谁高谁低的问题，毕竟这两个主控真要计较起来BUG都满多；而是讨论时下一个比较热门的话题 – YY成绩怎么出。

　　YY成绩谁都喜欢看，但怎么样出YY成绩，是CDB论坛一个乐此不疲的话题。看着会员们把自己辛苦测出的成绩往版上贴的时候，不由得看得我老怀大慰 – 全民普及才是每个技术论坛的宗旨。

　　这篇文章，就是讨论NEC芯片烧录机，在合适速度下和MTK芯片测试机的测试配合问题。

　　在接下来的楼层中，你可以看到很多YY的成绩。他们都是在MTK芯片的测试环境下取得的 – 尽管换个测试平台，可能就不会那么YY了。但从一个侧面上，仍然可以反映出NEC芯片在刻录品质上的优秀程度。

　　多的不说，就从养眼角度上来讲，NEC刻+MTK测试+好盘，那么，三围都很出色的成绩就很有可能达到了。

　　下面的案例全部出自PIONEER和NEC品牌的烧录机。