希捷创每平方英寸421Gbit磁录密度纪录

希捷科技（Seagate Technology）公司上周五宣布，成功演示了每平方英寸421Gbit（421Gb/sq.in）的磁记录密度，超过了日立环球存储科技（Hitachi GST）公司在两天前公布的每平方英寸345Gbit的水平，创下新的世界纪录。

希捷的Mark Kryder博士在庆祝硬盘驱动器50周年纪念的IDEMA DISKCON展览上的主题演讲中介绍了该成果。他解释说在垂直记录之后，未来的技术设计将包括热辅助磁记录（HAMR）和晶格介质技术。使用这些记录方法，希捷研究人员估计可达到或超过每平方英寸50Tbit的水平。

该演示使用了目前已有的生产设备制造的垂直记录（perpendicular recording）磁头和盘片，表明希捷有能力无需主要的技术改变或增加投资即可在可预见的将来提高技术能力。这个421Gbpsi的面密度演示使用具有5%推挤并在735Mb/s数据率下的10%偏离磁道容量的10^-3偏离磁道位错误率标准。道密度（track density）为27.5万TPI（每英寸磁道数），线密度为153万BPI（每英寸bit数），位比率（bit aspect ratio，BPI/TPI）为5.6。该演示使用现有生产设备生产的PRML通道、垂直记录磁头和热稳定介质。